卡規是用以檢驗軸(zhou)直徑尺寸的(de)量規，他的(de)優點(dian)檢驗，使用方便，特別適用于檢驗大批量的(de)工件， 產中(zhong)應(ying)用很(hen)廣泛。
“C”型卡規
卡規：用于軸(zhou)徑檢驗的光滑 量(liang)規其(qi)測量(liang)面(mian)為兩(liang)對稱的平面(mian)兩(liang)測量(liang)面(mian)間距(ju)具有(you)被檢軸(zhou)徑大 尺(chi)寸(cun)的為軸(zhou)用通規具有(you)被檢軸(zhou)徑小 尺(chi)寸(cun)的為軸(zhou)用止(zhi)規。
卡規（板）不能(neng)指示量值(zhi)，只能(neng)根(gen)據與被測(ce)件(jian)的(de)配合間隙、透(tou)光程度(du)或者能(neng)否通過被測(ce)件(jian)等(deng)來判斷(duan)被測(ce)長度(du)是否合格的(de)長度(du)測(ce)量工具(ju)。
卡規(gui)(gui)（板）結構簡單，通常為具有(you)準確尺(chi)(chi)寸和形狀的實(shi)體(ti)(ti)，如(ru)圓錐體(ti)(ti)、圓柱體(ti)(ti)、塊(kuai)體(ti)(ti)平(ping)板、尺(chi)(chi)和螺紋件(jian)等。常用的量(liang)規(gui)(gui)有(you)量(liang)塊(kuai)、角度量(liang)塊(kuai)、多面棱體(ti)(ti)、正弦規(gui)(gui)、直尺(chi)(chi)、平(ping)尺(chi)(chi)、平(ping)板、塞(sai)尺(chi)(chi)、平(ping)晶和 卡規(gui)(gui)等。
用(yong)(yong)卡規(gui)(gui)（板）檢驗(yan)工(gong)件通(tong)常有通(tong)止(zhi)法(fa)（利(li)用(yong)(yong)卡規(gui)(gui)的(de)通(tong)端(duan)和止(zhi)端(duan)控制工(gong)件尺(chi)寸使之不超出公差(cha)帶）、著(zhu)色(se)法(fa)（在卡規(gui)(gui)工(gong)作表(biao)(biao)面(mian)上涂上一薄(bo)層顏料，用(yong)(yong)卡規(gui)(gui)表(biao)(biao)面(mian)與被測表(biao)(biao)面(mian)研(yan)合(he)，被測表(biao)(biao)面(mian)的(de)著(zhu)色(se)面(mian)積大小和分布不均(jun)勻程度表(biao)(biao)示(shi)(shi)其誤(wu)差(cha)）、光(guang)(guang)隙法(fa)（使被測表(biao)(biao)面(mian)與卡規(gui)(gui)的(de)測量面(mian)接觸，后面(mian)放光(guang)(guang)源或(huo)(huo)采用(yong)(yong)自(zi)然(ran)光(guang)(guang)，根據(ju)透光(guang)(guang)的(de)顏色(se)可判斷間隙大小，從而表(biao)(biao)示(shi)(shi)被測尺(chi)寸、形狀或(huo)(huo)位置(zhi)誤(wu)差(cha)的(de)大小）和指示(shi)(shi)表(biao)(biao)法(fa)（利(li)用(yong)(yong)卡規(gui)(gui)的(de)準確(que)幾(ji)(ji)何形狀與被測幾(ji)(ji)何形狀比較，以百分表(biao)(biao)或(huo)(huo)測微儀等指示(shi)(shi)被測幾(ji)(ji)何形狀誤(wu)差(cha)）。其中利(li)用(yong)(yong)通(tong)止(zhi)法(fa)檢驗(yan)的(de)卡規(gui)(gui)稱為(wei) 卡規(gui)(gui)（如量規(gui)(gui)、光(guang)(guang)滑塞規(gui)(gui)、螺紋(wen)塞規(gui)(gui)、螺紋(wen)環規(gui)(gui)等）。
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